我国液晶面板产能跃居全球第二，已成为名副其实的平板显示产业大国，随着显示器尺寸、分辨率的不断增加以及新型显示技术(OLED)的快速发展，对各类平板像素级缺陷检测以及校正技术的要求也在不断升级，其中如何提升对不均匀信号（Mura）的高精度检出率，更是目前 “屏检”领域最为关注的核心问题之一。

    Mura检测不同于一般像素坏点、划痕缺陷检测，它是在LCD/OLED制程过程中引入的明暗色差，没有明显的辨识度，单纯提升相机分辨率无法实现对较低对比度Mura的检出需求。英迪格成像团队创新性地引入信号量化识别算法，成功研发出一款具有超高缺陷检出率的高分辨率相机——INDIGO 4500，不仅可以实现5微米的微小缺陷检测， Mura检出更可达到1%的超低水平，远超行业标准。

     如图所示，INDIGO 4500采用了12 bit位深的图像模式，相比普通8bit曲线（图A），12bit曲线（图B）震荡幅度明显减小，其量化误差明显降低，Mura信号识别准确性得到了显著提升；另外一方面基于噪声的时间和空间相关性，相机执行了一系列预处理，在完全不影响真实信号的前提下，待测信号与背景的震荡干扰能更好地分离开，如图C所示，相比未经预处理的图像，预处理后的信噪比提升了2倍以上， Mura信号的检测阈值下降了43 %，实现了极微小信号的精确检测。

   INDIGO 4500是基于新型科学级CMOS芯片开发的高性能工业检测相机，接近于8000×5500@2.8μm超高分辨率不仅可以实现更微小的缺陷检测，它还能同时提供16帧/秒的全分辨率数据高速输出，有效提高检测效率，是您新一代高清“屏检”相机的理想选择。