白光扫描干涉光学系统
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型号：
应用领域：
类别：镜头
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类别：镜头
产品详情
简介
W.S.I是一种高分辨率的非接触式3D测量工具，它使用短相干的白光（多波长）。
· 用3D的方法测量精细表面上的形状和厚度
· 使用白色射线可以精确测量高度，因为干涉图案的截面相对较短
· 您可能需要各种2D和3D图像来获取各种类型的数据。 菲涅尔光电基于多年积累的专业知识，为2D和
3D提供按需光学模块。 请与Fresnel联系以获取有关光模块的更多信息。
