产品介绍

CST⾯阵2.5D相位偏折成像系统是⼀款基于相位偏折技术的⾼精度光学检测系统，专为光滑类镜⾯物体的表⾯缺陷检测⽽设计。通过计算成像技术，系统能够精准捕捉物体表⾯的相位变化，还原其三维形貌特征。适⽤于光滑类镜⾯物体的表⾯检测，实现对划痕、异物、擦伤、细微凹坑、凸点等多种缺陷的⽆损检测。

成像原理

相位光源投影的正弦条纹图案在横、纵⽅向各有四种，以获取产品表⾯在横、纵两个维度上的相位信息。 对这两个维度的相位信息进⾏计算，准确还原产品表⾯的形貌特征。

本成像系统支持8张图像数据的实时采集与处理，通过相位光源输出触发信号给面阵相机，相机依次采集对应投射条纹图案的效果图，而后8张图像数据直接传至图像预处理器，并处理获得8张预处理效果图。

工作流程

产品特点

适用于反光光滑表面产品的外观检测项目，尤是检测凹凸点、压伤、变形等缺陷的面阵项目;

清晰：系统有网口或USB3.0接口的多种全局相机可选配;

快速：相位光源最⾼⽀持200KHz超⾼速投射频率，控制器响应时间<1μs;

实用：相位偏折光源正弦周期、方向可配置，正弦波形可根据产品特征和背景情况调节;

易用：光源控制器支持串口、网口通讯，支持外部硬件触发或内触发；

高效：高效的图像预处理系统，支持本地SDK调⽤。

应用案例

相位偏折成像技术，适⽤于光滑类镜⾯物体的表⾯检测，可检测划痕、异物、擦伤、细微凹坑、细微 凸点等多种缺陷。在3C、锂电、汽⻋及五⾦等⾏业应⽤⼴泛。

· 蓝膜电池外观检测

项⽬难点：缺陷类别兼容难，表⾯脏污、⿎包、破损、划伤需区分。 

成像效果：2.5D技术可区分平⾯缺陷与凹凸缺陷。

· 屏幕外观检测

项目难点：屏幕镜面反光强，细小缺陷难检测。

成像效果：消除反光干扰影响，凸显微小压伤、划痕缺陷。

· 硅⽚外观检测

项⽬难点：硅⽚镜⾯反光强，缓慢变形缺陷难检测。

成像效果：消除反光⼲扰影响，凸显缓慢变形类缺陷。

· ⾦属⽚外观检测

项⽬难点：缺陷类型复杂且形态差异⼤（如划痕、凹坑、裂纹等），表⾯⾦属纹路有⼲扰。 

成像效果：2.5D光源结合多⻆度阴影增强微⼩缺陷的三维形貌表达，有效区分表⾯纹理与真实缺陷。