半导体测试过程中需要设备有分选机、探针台、测试机以及光学显微镜、缺陷观测设备等，对应不同测试环节。分选机主要应用于芯片设计检验阶段和成品终测环节，是重要检测设备之一。

▲半导体分选机筛选过程

在筛选过程中，一些测试流程由于器件小，动作快，无法通过肉眼或普通相机去快速观察得出结论，然而高速相机解决了这一问题。本实验使用深视智能Mini系列高速相机，小体积相机，结合带有倍率镜头，可以从容的在狭窄机台内进行拍摄。