以下是施耐德镜头 CRYOLITE 2.8/40 的详细参数，
- 型号含义：2.8 = 最大光圈，40 = 焦距 (mm)，CRYOLITE 系列专属 SWIR 镜头（800-1800nm 短波红外优化），适配 1 英寸及以下传感器，主打工业穿透检测（如硅片隐裂、材料分析）。
- 专属特性：SWIR 增透膜、V38 模块化接口、紧凑耐震设计，无内置对焦，依赖机械锁定（适合产线固定工位）。
| 参数项 | 数值 / 描述 |
|---|
| 焦距 | 40mm（定焦，SWIR 波段（800-1800nm）光学优化）<sup>2,4</sup> |
| 光圈范围 | F2.8–F16（工业常用光圈，F2.8 大光圈低光适应性，F16 小光圈景深控制）<sup>2,4</sup> |
| 光谱范围 | 800–1800nm（SWIR 专属，穿透硅、塑料、陶瓷等材料，支持隐裂 / 分层检测）<sup>2,9</sup> |
| 最大传感器尺寸 | 43.2mm（1 英寸，适配 Sony IMX990、Teledyne FLIR SWIR 相机）<sup>2,4</sup> |
| 像场直径 | 43.2mm（无暗角覆盖 1 英寸传感器，边缘照度衰减＜5%）<sup>2,8</sup> |
| 分辨率 | 支持 2.4μm 像素（SWIR 相机超高像素适配，如 Gpixel GL1250）<sup>4</sup> |
| 杂散光控制 | SWIR 增透膜 + 内部消光漆，对比度提升 30%（对比可见光镜头）<sup>2,9</sup> |
| 参数项 | 数值 / 描述 |
|---|
| 镜头接口 | V38-Mount（兼容施耐德 Unifoc 模块化系统，支持延伸管 / 转接环）<sup>2,4</sup> |
| 滤镜尺寸 | M37×0.75（支持 SWIR 带通滤镜，如 940nm/1550nm）<sup>2,8</sup> |
| 外形尺寸 | Φ47mm×38.9mm（直径 × 长度，紧凑设计，适合狭小空间）<sup>2,8</sup> |
| 重量 | 108g（轻量化金属结构，抗振动，适合高速产线）<sup>2,4</sup> |
| 锁定设计 | 光圈 / 对焦双锁定螺丝（防振动偏移，产线安装后焦距稳定性＜0.05mm）<sup>2,9</sup> |
| 参数项 | 数值 / 描述 |
|---|
| 最近对焦距离 | 0.3m（从传感器算，物方视场 133mm×100mm，支持微距检测）<sup>8</sup> |
| 工作距离 | 0.3m–无穷远（机械对焦环调节，工业场景常用 0.5m–2m）<sup>9</sup> |
| 环境适应性 | -25℃~+70℃（5 周期温循），50g 冲击 / 2g 振动（DIN 标准，抗油污 / 粉尘）<sup>2,9</sup> |
| 适配相机 | SWIR 相机（如 FLIR Blackfly S SWIR、Sony IMX990），禁用于可见光传感器 |
- SWIR 增透膜：800-1800nm 透光率＞90%，比可见光镜头高 20%，支持硅片穿透成像<sup>2,9</sup>
- 无热化设计：温度变化 ±45℃时焦移＜0.1mm，工业温变环境免校准<sup>9</sup>
- V38 模块化：兼容 Unifoc 聚焦座（如 LF-38）、延伸管（ET-5/12mm），灵活调整工作距离<sup>4</sup>
- 紧凑耐震：全金属镜筒 + 锁定螺丝，适合太阳能电池、食品分拣等高振动产线<sup>2,8</sup>
- 太阳能电池：硅片隐裂、电极焊接缺陷检测（SWIR 穿透硅材料）<sup>4,9</sup>
- 半导体：硅片边缘毛刺、蓝宝石衬底裂纹检测（2.4μm 像素高精度）<sup>4</sup>
- 食品医药：肉类淤血、药片涂层均匀性检测（SWIR 特征吸收峰分析）<sup>2,4</sup>
- 地质勘探：矿石成分光谱成像（SWIR 波段特征反射）<sup>9</sup>
- 传感器匹配：仅适配 1 英寸及以下 SWIR 相机，1 英寸以上传感器会有暗角<sup>2,4</sup>。
- 滤镜必要性：必配 SWIR 带通滤镜（如 1000-1700nm），屏蔽环境可见光干扰<sup>9</sup>。
- 接口兼容性：V38 口需搭配 Unifoc 转接环（如 V38 转 C 口）适配传统相机，注意螺纹匹配<sup>4</sup>。
| 参数项 | CRYOLITE 2.8/40 | CUPRITE 2.8/50（V48 口） |
|---|
| 焦距 | 40mm（中短焦） | 50mm（中焦） |
| 最大传感器 | 43.2mm（1 英寸） | 25.4mm（1 英寸） |
| 重量 | 108g（超轻） | 297g |
| 典型应用 | 近距广域检测（硅片） | 中距高精度（晶 |
